文献
J-GLOBAL ID:201702246655386949
整理番号:17A0968773
鉄心インダクタ(Cu/Al-2O_3)のインダクタンスと抵抗値に及ぼす温度の影響【Powered by NICT】
Temperature impact on inductance and resistance values of a coreless inductor (Cu/Al2O3)
著者 (6件):
Doumit N.
(Laboratoire Hubert Curien UMR CNRS 5516, Universite Jean-Monnet, Saint-Etienne, France, 18 rue Professeur Benoit Lauras, 42000 Saint-Etienne, France)
,
Danoumbe B.
(Laboratoire Hubert Curien UMR CNRS 5516, Universite Jean-Monnet, Saint-Etienne, France, 18 rue Professeur Benoit Lauras, 42000 Saint-Etienne, France)
,
Capraro S.
(Laboratoire Hubert Curien UMR CNRS 5516, Universite Jean-Monnet, Saint-Etienne, France, 18 rue Professeur Benoit Lauras, 42000 Saint-Etienne, France)
,
Chatelon J.-P.
(Laboratoire Hubert Curien UMR CNRS 5516, Universite Jean-Monnet, Saint-Etienne, France, 18 rue Professeur Benoit Lauras, 42000 Saint-Etienne, France)
,
Blanc-Mignon M.-F.
(Laboratoire Hubert Curien UMR CNRS 5516, Universite Jean-Monnet, Saint-Etienne, France, 18 rue Professeur Benoit Lauras, 42000 Saint-Etienne, France)
,
Rousseau J.-J.
(Laboratoire Hubert Curien UMR CNRS 5516, Universite Jean-Monnet, Saint-Etienne, France, 18 rue Professeur Benoit Lauras, 42000 Saint-Etienne, France)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
72
ページ:
30-33
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)