文献
J-GLOBAL ID:201702246795488655
整理番号:17A0057292
BIST RM:オンチップクロック掃引と機械学習を用いたSoCのBIST支援信頼性管理【Powered by NICT】
BIST-RM: BIST-assisted reliability management of SoCs using on-chip clock sweeping and machine learning
著者 (6件):
Sadi Mehdi
(Dept. of Electrical & Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, USA)
,
Contreras Gustavo
(Dept. of Electrical & Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, USA)
,
Tran Dat
(NXP Semiconductor, Austin, TX, USA)
,
Chen Jifeng
(NXP Semiconductor, Austin, TX, USA)
,
Winemberg LeRoy
(NXP Semiconductor, Austin, TX, USA)
,
Tehranipoor Mark
(Dept. of Electrical & Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ITC
ページ:
1-10
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)