文献
J-GLOBAL ID:201702246850116478
整理番号:17A1555245
カプセル化障害の低融点シーリングガラスと解析の気密性試験【Powered by NICT】
Hermeticity test of low-melting point sealing glass and analysis of encapsulation failure
著者 (4件):
Tian Rui
(School of Material Science and Engineering, Shanghai University, 200072, China)
,
Li Yi
(Key Laboratory of Advanced Display and System Applications of Ministry of Education, Shanghai University, 200072, China)
,
Yin Luqiao
(Key Laboratory of Advanced Display and System Applications of Ministry of Education, Shanghai University, 200072, China)
,
Zhang Jianhua
(Key Laboratory of Advanced Display and System Applications of Ministry of Education, Shanghai University, 200072, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICEPT
ページ:
844-849
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)