文献
J-GLOBAL ID:201702246910268959
整理番号:17A1544969
等温時効下での常圧Agナノ粒子焼結継手のせん断強度に及ぼすENIG欠陥の影響【Powered by NICT】
Influence of ENIG defects on shear strength of pressureless Ag nanoparticle sintered joint under isothermal aging
著者 (2件):
Kim Min-Su
(Joining and Welding Research Institute, Osaka University, 11-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan)
,
Nishikawa Hiroshi
(Joining and Welding Research Institute, Osaka University, 11-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
420-425
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)