文献
J-GLOBAL ID:201702247135645053
整理番号:17A0362529
高出力InGaAs/AlGaAsレーザダイオードの破滅的光損傷【Powered by NICT】
Catastrophic optical damage of high power InGaAs/AlGaAs laser diodes
著者 (6件):
Souto J.
(GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain)
,
Pura J.L.
(GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain)
,
Torres A.
(GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain)
,
Jimenez J.
(GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain)
,
Bettiati M.
(3SP Technologies, Route de Villejust, 91625 Nozay, France)
,
Laruelle F.J.
(3SP Technologies, Route de Villejust, 91625 Nozay, France)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
627-630
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)