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文献
J-GLOBAL ID：201702247444227876
整理番号：17A1264689
低コスト対策設計のためのサイドチャネルトレースの信号対雑音比の測定【Powered by NICT】
Signal-to-noise ratio measurements of side-channel traces for establishing low-cost countermeasure design
Yano Yusuke
(Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Okayama, Japan)
,
Iokibe Kengo
(Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Okayama, Japan)
,
Toyota Yoshitaka
(Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Okayama, Japan)
,
Teshima Toshiaki
(Electrical and Communication Engineering, Okayama University, Okayama, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： APEMC ページ： 93-95 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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