文献
J-GLOBAL ID:201702247642954189
整理番号:17A0443812
二重堆積及びストリッピング段階後のアノーディックストリッピングボルタンメトリーによる痕跡量Se(IV)の定量【Powered by NICT】
Determination of trace Se(IV) by anodic stripping voltammetry following double deposition and stripping steps
著者 (3件):
Ochab Mateusz
(Faculty of Chemistry, Maria Curie Sklodowska University, 20-031 Lublin, Poland)
,
Geca Iwona
(Faculty of Chemistry, Maria Curie Sklodowska University, 20-031 Lublin, Poland)
,
Korolczuk Mieczyslaw
(Faculty of Chemistry, Maria Curie Sklodowska University, 20-031 Lublin, Poland)
資料名:
Talanta
(Talanta)
巻:
165
ページ:
364-368
発行年:
2017年
JST資料番号:
E0324A
ISSN:
0039-9140
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)