文献
J-GLOBAL ID:201702247666968325
整理番号:17A0544619
透過型走査電子顕微鏡(TSEM)を用いたナノ粒子の水平・垂直サイズ同時計測
Simultaneous measurement of lateral and vertical size of nanoparticles using transmission scanning electron microscopy (TSEM)
著者 (5件):
BUHR E
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
,
BUG M U
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
,
BERGMANN D
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
,
CIZMAR P
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
,
FRASE C G
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
資料名:
Measurement Science and Technology
(Measurement Science and Technology)
巻:
28
号:
3
ページ:
034002,1-8
発行年:
2017年03月
JST資料番号:
C0354C
ISSN:
0957-0233
CODEN:
MSTCEP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)