文献
J-GLOBAL ID:201702247961588963
整理番号:17A0702826
ナノブリッジ試験における接着接触変形【Powered by NICT】
Adhesion contact deformation in nanobridge tests
著者 (3件):
Gao Yao
(Shanghai Materials Genome Institute and Shanghai University Materials Genome Institute, Shanghai University, 99 Shangda Road, Shanghai 200444, China. zhangty@shu.edu.cn)
,
Shi San-Qiang
,
Zhang Tong-Yi
資料名:
Nanoscale
(Nanoscale)
巻:
9
号:
18
ページ:
6033-6040
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2323A
ISSN:
2040-3364
CODEN:
NANOHL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)