文献
J-GLOBAL ID:201702248181910366
整理番号:17A0057266
通信ICテストとATEシステムのためのI-Q信号発生技術【Powered by NICT】
I-Q signal generation techniques for communication IC testing and ATE systems
著者 (6件):
Murakami Masahiro
(Division of Electronics and Informatics, Gunma University, Kiryu, Gunma 376-8515 Japan)
,
Kobayashi Haruo
(Division of Electronics and Informatics, Gunma University, Kiryu, Gunma 376-8515 Japan)
,
Mohyar Shaiful Nizam Bin
(Universiti Malaysia Perlis, Pauh Putra Campus, 02600 Arau Perlis, Malaysia)
,
Kobayashi Osamu
(D-Clue Technologies, Yokohama 222-0033 Japan)
,
Miki Takahiro
(Division of Electronics and Informatics, Gunma University, Kiryu, Gunma 376-8515 Japan)
,
Kojima Junya
(Division of Electronics and Informatics, Gunma University, Kiryu, Gunma 376-8515 Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ITC
ページ:
1-10
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)