文献
J-GLOBAL ID:201702248298522690
整理番号:17A0822239
DCマグネトロンスパッタリングで制作したAlドープZnO薄膜の性質に与えるバッファ厚さの効果
Effect of buffer thickness on the properties of Al-doped ZnO thin films prepared by DC magnetron sputtering
著者 (4件):
ZHU Ke
(Hunan Inst. Technol., Hengyang, CHN)
,
WANG Haibin
(Hunan Inst. Technol., Hengyang, CHN)
,
XIAO Faxin
(Hunan Inst. Technol., Hengyang, CHN)
,
XU Feng
(Hunan Inst. Technol., Hengyang, CHN)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
28
号:
10
ページ:
7302-7306
発行年:
2017年05月
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)