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文献
J-GLOBAL ID:201702248333166221   整理番号:17A1636596

AlGaN/GaNH EMTの表面電位モデルにおける自己発熱とトラッピング効果の実装【Powered by NICT】

Implementation of self-heating and trapping effects in surface potential model of AlGaN/GaN HEMTs
著者 (6件):
Wu Qingzhi
(School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
Xu Yuehang
(School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
Wang Zhigang
(School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
Xia Lei
(School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
Yan Bo
(School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
Xu Ruimin
(School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: IMS  ページ: 236-239  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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