文献
J-GLOBAL ID:201702248673146065
整理番号:17A1781016
フェーザ測定ユニットを特性化するためのLabVIEWに基づく試験システム【Powered by NICT】
A LabVIEW based test system to characterize phasor measurement units
著者 (3件):
Meyur Rounak
(Bradley Department of Electrical and Computer Engineering, Virginia Polytechnic and State University, Blacksburg, Virginia 24060)
,
Stenbakken Gerard N.
(National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA)
,
Centeno Virgilio
(Bradley Department of Electrical and Computer Engineering, Virginia Polytechnic and State University, Blacksburg, Virginia 24060)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
NAPS
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)