文献
J-GLOBAL ID:201702248683267317
整理番号:17A1181697
超接合MOSFETボディダイオードの逆回復発振の解析【Powered by NICT】
Analysis of the reverse recovery oscillation of superjunction MOSFET body diode
著者 (2件):
Xue Peng
(Beihang University, School of Reliability and System Engineering, 100191 Beijing, China)
,
Fu Guicui
(Beihang University, School of Reliability and System Engineering, 100191 Beijing, China)
資料名:
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻:
129
ページ:
81-87
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0225A
ISSN:
0038-1101
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)