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文献
J-GLOBAL ID：201702248899844071
整理番号：17A0777129
短命の共有鍵を用いたLTEアクセス手順のセキュリティレベル向上
Improving Security Level of LTE Access Procedure by Using Short-Life Shared Key
AHMAD Fawad
(Department of Electronics Engineering, City University of Hong Kong)
,
PERADILLA Marnel
(College of Computer Studies, De La Salle University in Manila)
,
SAINI Akanksha
(School of Information, Communications and Electronics Engineering, The Catholic University of Korea)
,
JUNG Younchan
(School of Information, Communications and Electronics Engineering, The Catholic University of Korea)
資料名：
IEICE Transactions on Communications (Web)
(IEICE Transactions on Communications (Web))
巻： E100.B 号： 5 ページ： 738-748(J-STAGE) 発行年： 2017年
JST資料番号： U0467A ISSN： 1745-1345 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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