文献
J-GLOBAL ID:201702248923178897
整理番号:17A0362455
フラッシュに基づくFPGAにおける放射線誘起SETの予測について【Powered by NICT】
On the prediction of radiation-induced SETs in flash-based FPGAs
著者 (3件):
Azimi S.
(Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
,
Du B.
(Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
,
Sterpone L.
(Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
230-234
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)