文献
J-GLOBAL ID:201702249114313172
整理番号:17A1646222
深低温でのナノメータCMOS特性とコンパクトモデリング【Powered by NICT】
Nanometer CMOS characterization and compact modeling at deep-cryogenic temperatures
著者 (6件):
Incandela R. M.
(TU Delft, Delft, The Netherlands)
,
Song L.
(TU Delft, Delft, The Netherlands)
,
Homulle H.A.R.
(TU Delft, Delft, The Netherlands)
,
Sebastiano F.
(TU Delft, Delft, The Netherlands)
,
Charbon E.
(TU Delft, Delft, The Netherlands)
,
Vladimirescu A.
(TU Delft, Delft, The Netherlands)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ESSDERC
ページ:
58-61
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)