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文献
J-GLOBAL ID：201702249114476532
整理番号：17A0362435
DRES:システム信頼性を向上させるための状態監視のためのデータ回復【Powered by NICT】
DRES: Data recovery for condition monitoring to enhance system reliability
Liu Liansheng
(School of Electrical Engineering and Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, 150080, China)
,
Pan Dawei
(College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, 150001, China)
,
Liu Datong
(School of Electrical Engineering and Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, 150080, China)
,
Zhang Yujie
(School of Electrical Engineering and Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, 150080, China)
,
Peng Yu
(School of Electrical Engineering and Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, 150080, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 64 ページ： 125-129 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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