文献
J-GLOBAL ID:201702249274063284
整理番号:17A1036362
三層a VMCOデバイスの信頼性に及ぼす電子バンド構造の影響【Powered by NICT】
Impact of the electronic band structure on the reliability of triple layer a-VMCO devices
著者 (6件):
Belmonte Attilio
(imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Govoreanu Bogdan
(imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Subhechha Subhali
(imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Di Piazza Luca
(imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Goux Ludovic
(imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Kar Gouri Sankar
(imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IRPS
ページ:
PM-10.1-PM-10.5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)