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文献
J-GLOBAL ID：201702249681449114
整理番号：17A1388425
電子後方散乱回折を用いた解析結晶学的微細組織によるSn被覆中のホイスカ結晶粒の同定【Powered by NICT】
Identification of whisker grain in Sn coatings by analyzing crystallographic micro-texture using electron back-scatter diffraction
Jagtap Piyush
(Department of Materials Engineering, Indian Institute of Science, Bangalore, 560012, India)
,
Chakraborty Aritra
(Department of Chemical Engineering and Materials Science, Michigan State University, East Lansing, MI 48824, USA)
,
Eisenlohr Philip
(Department of Chemical Engineering and Materials Science, Michigan State University, East Lansing, MI 48824, USA)
,
Kumar Praveen
(Department of Materials Engineering, Indian Institute of Science, Bangalore, 560012, India)
資料名：
Acta Materialia
(Acta Materialia)
巻： 134 ページ： 346-359 発行年： 2017年
JST資料番号： A0316A ISSN： 1359-6454 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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