文献
J-GLOBAL ID:201702249769709195
整理番号:17A0255433
電子デバイス中の腐食誘起スズウィスカの成長:レビュー
Corrosion-induced tin whisker growth in electronic devices: a review
著者 (6件):
ILLES Balazs
(Budapest Univ. Technol. and Economics, Budapest, HUN)
,
ILLES Balazs
(Czech Technical Univ. in Prague, Prague, CZE)
,
HORVATH Barbara
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
GECZY Attila
,
KRAMMER Oliver
,
DUSEK Karel
(Czech Technical Univ. in Prague, Prague, CZE)
資料名:
Soldering & Surface Mount Technology
(Soldering & Surface Mount Technology)
巻:
29
号:
1
ページ:
59-68
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0953A
ISSN:
0954-0911
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)