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文献
J-GLOBAL ID：201702249818509781
整理番号：17A0222684
ナノスケールで横方向に誘導された光学力の測定
Measurement of laterally induced optical forces at the nanoscale
Huang Fei
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, 142 Engineering Tower, University of California, Irvine, California 92697, USA)
,
Tamma Venkata Ananth
(CaSTL Center, Department of Chemistry, University of California, Irvine, California 92697, USA)
,
Rajaei Mohsen
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, 142 Engineering Tower, University of California, Irvine, California 92697, USA)
,
Almajhadi Mohammad
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, 142 Engineering Tower, University of California, Irvine, California 92697, USA)
,
Kumar Wickramasinghe H.
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, 142 Engineering Tower, University of California, Irvine, California 92697, USA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 110 号： 6 ページ： 063103-063103-5 発行年： 2017年02月06日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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