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文献
J-GLOBAL ID：201702249919729709
整理番号：17A1256467
低周波雑音の変動性と閉鎖ゲートと標準nMOSFETにおけるミスマッチ【Powered by NICT】
Variability of Low Frequency Noise and mismatch in enclosed-gate and standard nMOSFETs
Bucher Matthias
(School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, 73100 Chania, Greece)
,
Nikolaou Aristeidis
(School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, 73100 Chania, Greece)
,
Mavredakis Nikolaos
(School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, 73100 Chania, Greece)
,
Makris Nikolaos
(School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, 73100 Chania, Greece)
,
Coustans Mathieu
(Ecole Polytechnique Fe ́de ́rale de Lausanne (EPFL), 1015, Switzerland)
,
Lolivier Jerome
(EM Microelectronic-Marin SA, 2074 Marin-Epagnier, Switzerland)
,
Habas Predrag
(EM Microelectronic-Marin SA, 2074 Marin-Epagnier, Switzerland)
,
Acovic Alexandre
(EM Microelectronic-Marin SA, 2074 Marin-Epagnier, Switzerland)
,
Meyer Rene
(EM Microelectronic-Marin SA, 2074 Marin-Epagnier, Switzerland)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ICMTS ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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