文献
J-GLOBAL ID:201702250750182689
整理番号:17A1023870
二重リング発振器アレイ回路を用いた論理およびSRAM動作に及ぼすRTNの影響の特性化【Powered by NICT】
Characterizing the Impact of RTN on Logic and SRAM Operation Using a Dual Ring Oscillator Array Circuit
著者 (2件):
Tang Qianying
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Minneapolis, MN, USA)
,
Kim Chris H.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota, Minneapolis, MN, USA)
資料名:
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻:
52
号:
6
ページ:
1655-1663
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0761A
ISSN:
0018-9200
CODEN:
IJSCBC
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)