文献
J-GLOBAL ID:201702251028529402
整理番号:17A1545023
離散技術SCRのTIM,EMMIと3D TCAD解析【Powered by NICT】
TIM, EMMI and 3D TCAD analysis of discrete-technology SCRs
著者 (4件):
Fleury C.
(Institute of Solid State Electronics, TU Wien, Floragasse 7, 1040 Vienna, Austria)
,
Notermans G.
(Nexperia Germany GmbH, Stresemannallee 101, 22529 Hamburg, Germany)
,
Ritter H.-M.
(Nexperia Germany GmbH, Stresemannallee 101, 22529 Hamburg, Germany)
,
Pogany D.
(Institute of Solid State Electronics, TU Wien, Floragasse 7, 1040 Vienna, Austria)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
698-702
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)