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文献
J-GLOBAL ID：201702251700209565
整理番号：17A1444476
ナノビームX線回折によるウルツ鉱型GaAsナノワイヤにおける個々の積層欠陥の特性化【Powered by NICT】
Characterization of individual stacking faults in a wurtzite GaAs nanowire by nanobeam X-ray diffraction
Davtyan Arman
(Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany)
,
Lehmann Sebastian
(Department of Solid State Physics/NanoLund, Lund University, Box 118, S-22100Lund, Sweden)
,
Kriegner Dominik
(Department of Condensed Matter Physics, Charles University, Ke Karlovu 5, 121 16Praha, Czech Republic)
,
Zamani Reza R.
(Department of Solid State Physics/NanoLund, Lund University, Box 118, S-22100Lund, Sweden)
,
Dick Kimberly A.
(Department of Solid State Physics/NanoLund, Lund University, Box 118, S-22100Lund, Sweden)
,
Dick Kimberly A.
(Center for Analysis and Synthesis, Lund University, Box 124, S-22100Lund, Sweden)
,
Bahrami Danial
(Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany)
,
Al-Hassan Ali
(Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany)
,
Leake Steven J.
(ESRF - The European Synchrotron, 71 Avenue des Martyrs, 38000Grenoble, France)
,
Pietsch Ullrich
(Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany)
,
Holy Vaclav
(Department of Condensed Matter Physics, Charles University, Ke Karlovu 5, 121 16Praha, Czech Republic)
資料名：
Journal of Synchrotron Radiation
(Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 24 号： 5 ページ： 981-990 発行年： 2017年
JST資料番号： W0763A ISSN： 0909-0495 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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