文献
J-GLOBAL ID:201702251751010763
整理番号:17A1646166
ヒトウェアラブルデバイスにおけるESDストレス電流の特性化【Powered by NICT】
Characterizing ESD stress currents in human wearable devices
著者 (3件):
Patnaik Abhishek
(Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65409)
,
Hua Runbing
(Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65409)
,
Pommerenke David
(Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65409)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EOS/ESD
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)