文献
J-GLOBAL ID:201702251893223006
整理番号:17A1651283
電磁継電器の劣化故障のシミュレーションと診断【Powered by NICT】
Simulation and diagnosis of degradation failure on electromagnetic relay
著者 (5件):
Ye Xuerong
(School of Electrical Engineering & Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Fu Rao
(School of Electrical Engineering & Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Wu Yang
(School of Electrical Engineering & Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Lin Yigang
(School of Electrical Engineering & Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Zhai Guofu
(School of Electrical Engineering & Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PHM (Harbin)
ページ:
1-9
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)