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文献
J-GLOBAL ID：201702251906017749
整理番号：17A1717272
半導体欠陥による二次元エレクトロニクスの設計【Powered by NICT】
Engineering two-dimensional electronics by semiconductor defects
Wang Dan
(State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, College of Electronic Science and Engineering, Jilin University, Changchun 130012, China)
,
Li Xian-Bin
(State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, College of Electronic Science and Engineering, Jilin University, Changchun 130012, China)
,
Han Dong
(State Key Laboratory of Luminescence and Applications, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China)
,
Tian Wei Quan
(College of Chemistry and Chemical Engineering, Chongqing University, Huxi Campus, Chongqing 401331, China)
,
Sun Hong-Bo
(State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, College of Electronic Science and Engineering, Jilin University, Changchun 130012, China)
資料名：
Nano Today
(Nano Today)
巻： 16 ページ： 30-45 発行年： 2017年
JST資料番号： W3114A ISSN： 1748-0132 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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