文献
J-GLOBAL ID:201702252034473996
整理番号:17A0591550
走査型プローブ顕微鏡法(SPM)による精密なナノ規模測定: 解説
Precise Nanoscale Measurements with Scanning Probe Microscopy (SPM): A Review
著者 (8件):
MA Zongmin
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
ZHAO Min
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
QU Zhang
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
GAO Jian
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
WANG Fang
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
SHI Yunbo
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
QIN Li
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
,
LIU Jun
(North Univ. China, Taiyuan, CHN)
資料名:
Journal of Nanoscience and Nanotechnology
(Journal of Nanoscience and Nanotechnology)
巻:
17
号:
4
ページ:
2213-2234
発行年:
2017年04月
JST資料番号:
W1351A
ISSN:
1533-4880
CODEN:
JNNOAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)