文献
J-GLOBAL ID:201702252038989815
整理番号:17A1570147
非サブサンプル・カンターレット領域における統計的モデリングを用いたパッチによる顕著な領域検出【Powered by NICT】
Patch-based salient region detection using statistical modeling in the non-subsampled contourlet domain
著者 (3件):
Abkenar M. Rezaie
(Department of Electrical and Computer Engineering, Concordia University, Montreal, Quebec, Canada H3G 1M8)
,
Sadreazami H.
(Department of Electrical and Computer Engineering, Concordia University, Montreal, Quebec, Canada H3G 1M8)
,
Ahmad M. Omair
(Department of Electrical and Computer Engineering, Concordia University, Montreal, Quebec, Canada H3G 1M8)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ISCAS
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)