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文献
J-GLOBAL ID：201702252275382334
整理番号：17A0362428
システムレベルESDストレス中の過渡波形の非線形容量の影響【Powered by NICT】
Impact of non-linear capacitances on transient waveforms during system level ESD stress
Escudie F.
(LAAS-CNRS, Universite de Toulouse, CNRS, UPS, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France)
,
Caignet F.
(LAAS-CNRS, Universite de Toulouse, CNRS, UPS, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France)
,
Nolhier N.
(LAAS-CNRS, Universite de Toulouse, CNRS, UPS, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France)
,
Bafleur M.
(LAAS-CNRS, Universite de Toulouse, CNRS, UPS, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 64 ページ： 88-92 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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