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文献
J-GLOBAL ID：201702252285833042
整理番号：17A0390097
Sn58Biはんだの長さに依存するエレクトロマイグレーション挙動とエレクトロマイグレーション臨界長
Length-Dependent Electromigration Behavior of Sn58Bi Solder and Critical Length of Electromigration
ZHAO Xu
(Akita Univ., Akita, JPN)
,
MURAOKA Mikio
(Akita Univ., Akita, JPN)
,
SAKA Masumi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻： 46 号： 2 ページ： 1287-1292 発行年： 2017年02月
JST資料番号： D0277B ISSN： 0361-5235 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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