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文献
J-GLOBAL ID：201702252401898252
整理番号：17A1024354
アナログ波形エンジニアリングによるメムリスタにおける任意スパイク時間依存性可塑性(STDP)【Powered by NICT】
Arbitrary Spike Time Dependent Plasticity (STDP) in Memristor by Analog Waveform Engineering
Panwar Neeraj
(Department of Electrical Engineering, IIT Bombay, Mumbai, India)
,
Rajendran Bipin
(Department of Electrical and Computer Engineering, New Jersey Institute of Technology, Newark, NJ, USA)
,
Ganguly Udayan
(Department of Electrical Engineering, IIT Bombay, Mumbai, India)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 38 号： 6 ページ： 740-743 発行年： 2017年
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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