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文献
J-GLOBAL ID：201702252436115077
整理番号：17A1823262
低線量透過型走査電子顕微鏡イメージングと最尤再構成を用いたグラフェン中の点欠陥の解析【Powered by NICT】
Analysis of Point Defects in Graphene Using Low Dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Maximum Likelihood Reconstruction
Kramberger Christian
(Faculty of Physics, University of Vienna, Boltzmanngasse 5, 1090 Vienna, Austria)
,
Mittelberger Andreas
(Faculty of Physics, University of Vienna, Boltzmanngasse 5, 1090 Vienna, Austria)
,
Hofer Christoph
(Faculty of Physics, University of Vienna, Boltzmanngasse 5, 1090 Vienna, Austria)
,
Meyer Jannik C.
(Faculty of Physics, University of Vienna, Boltzmanngasse 5, 1090 Vienna, Austria)
資料名：
Physica Status Solidi. B. Basic Solid State Physics
(Physica Status Solidi. B. Basic Solid State Physics)
巻： 254 号： 11 ページ： ROMBUNNO.201700176 発行年： 2017年
JST資料番号： C0599A ISSN： 0370-1972 CODEN： PSSBBD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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