文献
J-GLOBAL ID:201702252530927431
整理番号:17A1550634
ナノ構造CuIn_3S_5とCuIn_5S_8薄膜の偏光解析法による特性評価と光学異方性【Powered by NICT】
Ellipsometric characterization and optical anisotropy of nanostructured CuIn3S5 and CuIn5S8 thin films
著者 (4件):
Akkari F. Chaffar
(Universite Tunis ElManar, Ecole Nationale d′Ingenieurs de Tunis, Laboratoire de Photovoltaieque et Materiaux Semiconducteurs, BP37, 1002 Le Belvedere, Tunis, Tunisia)
,
Abdelkader D.
(Universite Tunis ElManar, Ecole Nationale d′Ingenieurs de Tunis, Laboratoire de Photovoltaieque et Materiaux Semiconducteurs, BP37, 1002 Le Belvedere, Tunis, Tunisia)
,
Gallas B.
(Institut des NanoSciences de Paris-CNRS-Universite Pierre et Marie Curie, 4 place Jussieu, 75252 Paris Cedex 05, France)
,
Kanzari M.
(Universite Tunis ElManar, Ecole Nationale d′Ingenieurs de Tunis, Laboratoire de Photovoltaieque et Materiaux Semiconducteurs, BP37, 1002 Le Belvedere, Tunis, Tunisia)
資料名:
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻:
71
ページ:
156-160
発行年:
2017年
JST資料番号:
W1055A
ISSN:
1369-8001
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)