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文献
J-GLOBAL ID：201702252546952464
整理番号：17A0214267
等電子トラップ技術に基づくI_on増強による相補TFET回路の性能の改善【Powered by NICT】
Demonstrating performance improvement of complementary TFET circuits by Ion enhancement based on isoelectronic trap technology
Mori T.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Asai H.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Hattori J.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Fukuda K.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Otsuka S.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Morita Y.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
O’uchi S.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Fuketa H.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Migita S.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Mizubayashi W.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Ota H.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
,
Matsukawa T.
(Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： IEDM ページ： 19.4.1-19.4.4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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