文献
J-GLOBAL ID:201702252712406748
整理番号:17A0492947
放射されたイオン数の統計的分布の分析によるサブMeVのC60イオン衝突の二次イオン放出過程のキャラクタリゼーション
Characterization of secondary ion emission processes of sub-MeV C60 ion impacts via analysis of statistical distributions of the emitted ion number
著者 (5件):
Hirata K.
(National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
,
Yamada K.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
,
Chiba A.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
,
Narumi K.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
,
Saitoh Y.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
資料名:
Journal of Chemical Physics
(Journal of Chemical Physics)
巻:
145
号:
23
ページ:
234311-234311-5
発行年:
2016年12月21日
JST資料番号:
C0275A
ISSN:
0021-9606
CODEN:
JCPSA6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)