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文献
J-GLOBAL ID：201702252816470455
整理番号：17A1185990
強誘電性を評価するためのマルチスケール特性評価法の解釈:GaFeO_3の1例【Powered by NICT】
Interpretation of multiscale characterization techniques to assess ferroelectricity: The case of GaFeO3
Martin Simon
(Institut des Nanotechnologies de Lyon, INSA de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7, avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne, France)
,
Baboux Nicolas
(Institut des Nanotechnologies de Lyon, INSA de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7, avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne, France)
,
Albertini David
(Institut des Nanotechnologies de Lyon, INSA de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7, avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne, France)
,
Gautier Brice
(Institut des Nanotechnologies de Lyon, INSA de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7, avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne, France)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 172 ページ： 47-51 発行年： 2017年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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