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文献
J-GLOBAL ID：201702252843117938
整理番号：17A0882383
X線計算機トモグラフィーを用いたSOFC電極の定量化中間周波数不均一性【Powered by NICT】
Quantifying intermediate-frequency heterogeneities of SOFC electrodes using X-ray computed tomography
Epting William K.
(Department of Mechanical Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
,
Mansley Zachary
(Department of Material Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
,
Menasche David B.
(Department of Physics, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
,
Kenesei Peter
(X-ray Science Division, Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, Illinois)
,
Suter Robert M.
(Department of Physics, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
,
Gerdes Kirk
(U.S. Department of Energy, National Energy Technology Laboratory, Morgantown, West Virginia)
,
Litster Shawn
(Department of Mechanical Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
,
Litster Shawn
(Department of Material Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
,
Salvador Paul A.
(Department of Material Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
資料名：
Journal of the American Ceramic Society
(Journal of the American Ceramic Society)
巻： 100 号： 5 ページ： 2232-2242 発行年： 2017年
JST資料番号： C0253A ISSN： 0002-7820 CODEN： JACTAW 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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