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文献
J-GLOBAL ID：201702253141062717
整理番号：17A1651264
Bayesネットワークと製造品質変動伝搬に基づく製品小児疾患のリスクの評価【Powered by NICT】
Assessing the risk of product infant failure based on Bayesian network and manufacturing quality variation propagation
Zhu Chunling
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
He Yihai
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Cui Jiaming
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
,
Liu Fengdi
(School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： PHM (Harbin) ページ： 1-8 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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