文献
J-GLOBAL ID:201702253608957519
整理番号:17A0965782
HK膜中の不純物の研究【Powered by NICT】
The study of the impurity in HK film
著者 (3件):
Yingming Liu
(Shanghai Huali Microelectronics Corporation, 568 Gaosi Rd., Pudong district, China)
,
Qiuming Huang
(Shanghai Huali Microelectronics Corporation, 568 Gaosi Rd., Pudong district, China)
,
Haifeng Zhou
(Shanghai Huali Microelectronics Corporation, 568 Gaosi Rd., Pudong district, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CSTIC
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)