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J-GLOBAL ID：201702253666556530 整理番号：17A1020005

シンクロトロン単色ビームX線トポグラフィーによる高品質グルコースイソメラーゼ結晶中のgrown-in転位の特性評価【Powered by NICT】

Characterization of grown-in dislocations in high-quality glucose isomerase crystals by synchrotron monochromatic-beam X-ray topography

著者 (8件)：

Suzuki Ryo

(Graduate School of Nanobioscience, Yokohama City University, 22-2 Seto, Kanazawa-ku, Yokohama 236-0027, Japan)

Koizumi Haruhiko

(Institute for Materials Research, Tohoku University, 2-1-1, Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan)

Kojima Kenichi

(Department of Education, Yokohama Soei University, 1 Miho-cho, Midori-ku, Yokohama 226-0015, Japan)

Fukuyama Seijiro

(Advanced Engineering Services Co., Ltd., Tsukuba Mitsui Bldg., 1-6-1 Takezono, Tsukuba, Ibaraki 305-0032, Japan)

Arai Yasutomo

(Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA), 2-1-1 Sengen, Tsukuba, Ibaraki 305-8505, Japan)

Tsukamoto Katsuo

(Graduate School of Engineering, Osaka University, Suita, Osaka 565-0871, Japan)

Suzuki Yoshihisa

(Department of Applied Chemistry, Graduate School of Science and Technology, Tokushima University, 2-1 Minamijosanjima, Tokushima 770-8506, Japan)

Tachibana Masaru

(Graduate School of Nanobioscience, Yokohama City University, 22-2 Seto, Kanazawa-ku, Yokohama 236-0027, Japan)

資料名：

Journal of Crystal Growth (Journal of Crystal Growth)

巻： 468 ページ： 299-304 発行年： 2017年
JST資料番号： B0942A ISSN： 0022-0248 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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