文献
J-GLOBAL ID:201702253711106037
整理番号:17A0362429
熱加速試験後の直列チョッパ応用におけるRF LDMOSのための電磁干渉の進化研究【Powered by NICT】
Evolution study of the ElectroMagnetic Interference for RF LDMOS in series chopper application after thermal accelerated tests
著者 (3件):
Belaied M.A.
(SAGE-ENISo, National Engineering School of Sousse, 4023, University of Sousse, Tunisia)
,
Kaouach H.
(SAGE-ENISo, National Engineering School of Sousse, 4023, University of Sousse, Tunisia)
,
Slama J.B.H.
(SAGE-ENISo, National Engineering School of Sousse, 4023, University of Sousse, Tunisia)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
93-97
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)