文献
J-GLOBAL ID:201702253918326953
整理番号:17A1723398
基本的にシリコンマイクロリングにおけるキャンセル後方散乱【Powered by NICT】
Fundamentally cancel backscattering in silicon microrings
著者 (2件):
Li Ang
(Photonics Research Group, Ghent University-IMEC, Department of Information Technology, 9052 Ghent, Belgium)
,
Bogaerts Wim
(Photonics Research Group, Ghent University-IMEC, Department of Information Technology, 9052 Ghent, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CLEO/Europe-EQEC
ページ:
1
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)