文献
J-GLOBAL ID:201702254067537096
整理番号:17A1554795
再構成可能FPGAにおける適応シングルイベント効果緩和のためのシングルイベントアップセットセンサのBRAM実現【Powered by NICT】
BRAM implementation of a single-event upset sensor for adaptive single-event effect mitigation in reconfigurable FPGAs
著者 (5件):
Glein Robert
(Information Technology (Communication Electronics), Friedrich-Alexander-Universitaet Erlangen-Nuernberg (FAU), Germany, Erlangen)
,
Mengs Philipp
(Information Technology (Communication Electronics), Friedrich-Alexander-Universitaet Erlangen-Nuernberg (FAU), Germany, Erlangen)
,
Rittner Florian
(Information Technology (Communication Electronics), Friedrich-Alexander-Universitaet Erlangen-Nuernberg (FAU), Germany, Erlangen)
,
Wansch Rainer
(RF and Satellite Communications Department, Fraunhofer Institute for Integrated Circuits, Germany, Erlangen)
,
Heuberger Albert
(Information Technology (Communication Electronics), Friedrich-Alexander-Universitaet Erlangen-Nuernberg (FAU), Germany, Erlangen)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
AHS
ページ:
1-8
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)