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文献
J-GLOBAL ID：201702254131055378
整理番号：17A1309789
導電性大面積電界エミッタを用いた実験からの規格化障壁場の導出:放出面積と印加電場との間の依存性を含めた考察
Extracting scaled barrier field from experiments with conducting large-area field emitters: Considerations by inclusion of the dependence between area of emission and the applied field
A. de Assis Thiago
(Instituto de Fisica, Universidade Federal da Bahia, Campus Universitario da Federacao, Rua Barao de Jeremoabo s/n, 40170-115 Salvador, BA, Brazil)
,
P. de Castro Caio
(Instituto de Fisica, Universidade Federal da Bahia, Campus Universitario da Federacao, Rua Barao de Jeremoabo s/n, 40170-115 Salvador, BA, Brazil)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 35 号： 5 ページ： 052201-052201-7 発行年： 2017年09月
JST資料番号： E0974A ISSN： 2166-2746 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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