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文献
J-GLOBAL ID：201702254184491977
整理番号：17A1256457
しきい値電圧変動の免疫のための直接測定のためのV_thシフト可能なSRAMセルTEGs【Powered by NICT】
Vth-shiftable SRAM cell TEGs for direct measurement for the immunity of the threshold voltage variability
Yamaguchi Shogo
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
,
Imi Hitoshi
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
,
Tokumaru Shogo
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
,
Kondo Takahiro
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
,
Yamamoto Hiromasa
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
,
Nakamura Kazuyuki
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ICMTS ページ： 1-3 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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