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文献
J-GLOBAL ID：201702254260596728
整理番号：17A0388775
ナノスケールでの光電子デバイスの同時トポグラフィー,電気的および光学的顕微鏡法【Powered by NICT】
Simultaneous topographical, electrical and optical microscopy of optoelectronic devices at the nanoscale
Kumar Naresh
(National Physical Laboratory, Teddington, Middlesex, UK TW11 0LW. naresh.kumar@npl.co.uk fernando.castro@npl.co.uk)
,
Zoladek-Lemanczyk Alina
,
Guilbert Anne A. Y.
,
Su Weitao
,
Tuladhar Sachetan M.
,
Kirchartz Thomas
,
Schroeder Bob C.
,
McCulloch Iain
,
Nelson Jenny
,
Roy Debdulal
,
Castro Fernando A.
資料名：
Nanoscale
(Nanoscale)
巻： 9 号： 8 ページ： 2723-2731 発行年： 2017年
JST資料番号： W2323A ISSN： 2040-3364 CODEN： NANOHL 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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