文献
J-GLOBAL ID:201702254325810710
整理番号:17A1635405
SABER誤差耐性回路の設計のための近似ビットの選択【Powered by NICT】
SABER: Selection of approximate bits for the design of error tolerant circuits
著者 (4件):
Sengupta Deepashree
(Department of ECE, University of Minnesota, United States of America)
,
Snigdha Farhana Sharmin
(Department of ECE, University of Minnesota, United States of America)
,
Jiang Hu
(Department of ECE, Texas A&M University, United States of America)
,
Sapatnekar Sachin S.
(Department of ECE, University of Minnesota, United States of America)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DAC
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)